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PMCL-AC240TSA
本モデルは、カンチレバーの反射面に金（Au）コーティングを施しており、テトラヘドラル形状による高分解能特性を維持しながら、光学検出（レーザー反射検出）性能の向上を目的として設計されています。
金コーティングプローブは、特定の測定環境において以下の利点を有します。
- レーザー検出信号の安定化に寄与する高い反射率
- アルミニウムコーティングと比較して優れた耐酸化性
- 液中環境や生体試料測定への高い適合性
- 化学的に影響を受けやすい実験条件下においても安定したコーティング特性
| モデル名 / ブランド | 金属コーティング |
| PMCL-AC240TSA / PYRAMID | 金属コーティング（探針側：なし／反射面：金／クロム） |
| PMCL-AC240TSA 仕様 | ||
| カンチレバー | 形状 | 長方形 |
| 寸法(L x W x T, μm) | 240 × 40 × 2.3 | |
| 共振周波数 (空気中, kHz) | 70（±20） | |
| ばね定数(剛性, N/m) | 2（代表値） | |
| 材質 | シリコン（n型, 0.01–0.02 Ω・cm） | |
| 探針 | 形状 | 鋭利なテトラヘドラル構造（TipView対応形状） |
| 長さ（µm） | 14 | |
| 先端半径（nm） | 7（代表値） | |
| 探針角度（前面） | 0° | |
| （背面） | 35° | |
| （側面） | 対称形、ハーフコーン角9°以下 | |
| 材質 | シリコン（n型, 0.01–0.02 Ω・cm） | |
| チップ | 形状 | 長方形断面、面取り加工されたチップ構造 |
| 寸法（L×W×T, mm） | 3.4 × 1.6 × 0.3 | |
| パッケージ | ケース内チップ構成 | 分離済みチップ |
| 保管ケース | 粘着コーティング付きプラスチックケース | |
主な特長
- 軟らかい試料の測定に適した低ばね定数
- 低抵抗シリコンによる表面電位測定に対応
- 理想的な先端形状（Point-Terminated Tip）
- TipView構造
- 金属コーティング
- 取り扱い性に優れた新構造チップ
1. 軟らかい試料の測定に適した低ばね定数
ばね定数2 N/m（代表値）は、ACモード用シリコンカンチレバーの中でも最も低いクラスうの値であり、軟質試料の表面形状および粘弾性特性の観察に適しています。
2. 低抵抗シリコンによる表面電位測定
カンチレバー基材には、表面抵抗率0.01～0.02 Ω・cmのn型ドープシリコンを採用しています。 （当社従来材料の約1/200） これにより、表面電位測定などの電気的特性評価に対応しています。
3. 理想的な先端形状（Point-Terminated Tip）
テトラヘドラル形状の探針は、理想的な鋭利先端を有しています。
また、正面から見た際に高い対称性を示し、安定した測定性能を実現します。
4. TipView構造
TipView構造により、探針を目的位置へ容易に位置合わせすることが可能です。
探針はカンチレバー先端に配置されており、光学観察時にも先端が遮られることはありません。
※上記はSEMによる拡大画像（左から正面・側面・前面方向)
5. 金属コーティング（反射面)
カンチレバーには、厚さ約50 nmの金（Au）薄膜がコーティングされています。
AFM装置のたわみ検出センサーにおける光反射効率を高め、高いS/N比での測定が可能です。
6. 取り扱い性に優れた新構造チップ
チップ側面は垂直に近い平行構造となっており、 ピンセットによる取り扱いが容易で、欠けや異物付着のリスクを低減します。